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제품정보 > 단종제품 > 플라잉 프로브 테스터

플라잉 프로브 테스터

FA1116 (단종)

견적문의

Max.100 points / sec.의 고속 검사, 타흔 깊이 1/2

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    제품번호 (발주코드)

    FA1116-03 반송 기능 없음

    • ● Max.100points / sec의 고속 검사
      ● 금도금과 미세 패턴 검사의 택트 타임 30 % 향상
      ● 신형 프로브 CP1702-01과 최적 소프트랜딩 제어를 탑재하여 미세 패턴 검사 속도 설정이 보다 고속화
      ● 5aF 고분해능 정전 용량 측정으로 단독 패턴의 결손 등 미세 변화를 검출 가능
      ● 일반 베어 보드부터 플렉시블 기판, BGA, CSP, MCM 등의 미세, 고밀도 기판까지 검사 가능
      ● 최소 패드 사이즈 15um로 향상
      ● 정전 용량 측정 이외에, 저항, 인덕턴스, 다이오드와 전압 측정까지 표준 서포트. 또한 MLCC 측정 기능으로 JIS 규격에 따른 콘덴서 측정이 가능합니다.
      ● 풍부한 측정 기능과 옵션 유닛의 조합이 미검사 기판의 현장 체류 시간을 줄여드립니다.

    타흔 깊이 1/2 FA1116 소개 동영상

    정전 용량 측정 전용 베어 보드 테스터 FA1116는 기존의 플라잉 프로브 테스터와 같은 검사 속도로 타흔 깊이 1/2을 실현하였습니다.
    검사흔이 더욱 작아진 베어 보드로서 자사 제품의 장점이 될 뿐만 아니라, 메카의 이동 속도 설정을 올려 검사 시간의 단축을 목표로 할 수도 있습니다.　

    정전 용량 검사의 장점

    정전 용량 방식은 플라잉 프로브 테스터의 검사 시간 단축에 필수적인 검사 방식입니다.

    그 중에서도 흡착식의 가장 큰 장점은 “형상/층수를 가리지 않고 검사 가능함”입니다. 검사를 통해 양품임을 증명하지 않으면 모처럼의 제품도 출하할 수 없습니다.
    “검사 가능함”이 검사기의 가장 중요한 과제입니다.

    검사 시간은 검사 포인트와 타흔에 맞춘 속도 설정으로 결정됩니다.
    단면, 플렉시블, 패키지, CSP와 형상, 두께 등을 의식하지 않고 검사를 시작할 수 있습니다.

    단면 흡착식 정전 용량 방식의 장점 (비 도통 검사)

    “1 : 多 네트워크”간의 비연속성 검사가 가능한 것이 단면식의 특징입니다.

    양면 컨택트 플라잉 프로브 테스터로는, 기준이되는 GND 플레인의 설정에 따라 용량 측정만으로는 확인할 수 없는 포인트가 나올 수 있습니다. 이 때문에 저항 측정의 검사 네트워크가 늘어나 미세한 다층판보다 양면판 쪽이 검사 시간이 길어지는 역전 현상이 자주 발생합니다.
    단면 용량 방식은 기판 사이의 쇼트에서도 동일한 기준 전극에 흡착되어 있기 때문에 검사 ​​시간이 늘어나는 일 없이 단락 불량을 확실하게 감지할 수 있습니다.

    안정된 타흔과 고속 검사

    전기 검사를 수행하는 한, 기판에서 프로브 흔적이 사라지는 일은 없습니다.

    당연하지만, 검사 대상이 일정하다면 검사기도 보다 간단히 일정한 조건을 추출할 수 있게 됩니다. 접촉면의 상태를 파악하기 어려운 양면 컨택트는 프로브의 컨택트 메커니즘이 복잡할 수밖에 없습니다. 즉, 흡착 타입은 기판의 검사면이 일정하므로 “검사 시간의 저하를 최소화한”여러 조건(속도, 압입 등)을 빠르게 지정할 수 있습니다. 컨택트 검사 및 검사면의 높이 보정 등이 불필요한 구조로 심플하게, 최종 검사 시간을 단축 할 수 있습니다.

    타격 경감 링크 프로브 CP1072-01 (옵션)

    신설계 타흔 경감 프로브와 정밀 소프트랜딩 제어의 조합으로 미세 패턴 검사시의 속도 설정이 최고속 설정에 근접하게 되었습니다. (FA1116 전용 프로브)

    레이저 기판 두께 보정 FA1950-06 (옵션)
    자동 검사 시작시 검사면의 높이를 체크. 기판의 휨이나 두께의 불균형이 타흔에 미치는 영향을 경감합니다. 또한 기판 고정 미스로 인한 프로브 손상을 방지합니다.

    프로브 라인업

    검사 기판에 따라 다양한 바리에이션으로 선택이 가능합니다.
    프로브나 타흔 관련 문의는 전국의 프로브 마이스터가 직접 담당합니다.

    거버 편집은 FEB-LINE UA1781

    데이터 작성 시스템 UA1781은 HIOKI 원래 거버 편집 소프트웨어입니다.
    플라잉 데이터 작성에 필요한 검사 노하우와, 기존의 편집 소프트웨어로는 번거로웠던 캐비티 데이터 및 겹침 데이터의 네트워크 연결 처리 등 독자적인 기능을 탑재 한 FLY-LINE의 후속 프로그램입니다.

    불량 네트워크 탐색은 FAIL VIEWER UA1782

    용량 측정을 통한 결과부터 불량 네트워크의 표시나 불량 개소의 탐색을 실행하는 뷰어 소프트웨어

    간략한 사양​

    암 수
    2
    검사 스텝 수
    최대 40,000 스텝 / 피스
    300,000 스텝 / 시트
    측정 범위
    DC 측정 기능
    저항 : 400 μΩ~40 MΩ
    콘덴서 : 4 μF~400 mF
    다이오드, 트랜지스터 (VF) : 0 ~ 25 V
    제너 다이오드 (VZ) : 0 ~ 25 V
    쇼트 : 400 mΩ ~ 40 kΩ
    오픈 : 4 Ω ~ 4 MΩ
    전압 : 0 ~ 25 V

    AC 측정 기능 저항 : 100 Ω~100 MΩ
    콘덴서 : 10 fF~10 μF
    코일 : 10 μH~100 mH
    측정 시간
    Max.100 points / s
    (0.1 mm 이동, 2암 동시 프로빙, 용량 측정시)
    프로브 워크 영역
    610W × 510D mm
    고정 가능 기판 사이즈
    두께 : 0.1~3.2 mm
    외형 : 50W × 50D~610W × 510 mm
    부품 탑재 범위 : 상측 10 mm (기판 두께 포함), 하측 : 0.1 mm
    기판 반송
    자동 반송 사양 없음
    전원
    AC200 V ± 10 % (단상) 60 Hz, 3 kVA
    치수 · 질량
    1443W × 1656H × 1185D mm 1000 kg

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    카탈로그

    Catalog: FEB-LINE INSPECTION DATA CREATION SYSTEM UA1781 Download PDF  [2.22 MB] 영어
    Catalog: FLYING PROBE TESTER FA1116 Download PDF  [1.09 MB] 영문

    Drivers, Firmware

    Process Analyzer  Freeware V2.05.0

    이 제품의 옵션​

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    사용 예 (어플리케이션 ・용도)​

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