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제품정보 > 단종제품 > XY 보드 하이 테스터

XY 보드 하이 테스터

1270,1271 (단종)

견적문의

탁월한 코스트 퍼포먼스의 양면 베어 보드 검사

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    제품번호 (발주코드)

    1270 년 50 × 50 ~ 400 × 330mm 보드
    1271 년 50 × 70 ~ 610 × 510mm 보드
    검사 기판 크기 1270 50 × 50~400 × 330 mm 검사 기판 크기 1271 50 × 70~610 × 510 mm

    • ● 프론트 2 암, 백 2 암 등 총 4 암으로 양면 동시 검사
      ● 단자 저저항 측정 기능 (옵션)으로 크랙 등의 보이지 않는 결함까지 탐지
      ● 도통 검사 방식과 정전 용량 측정 방식 외에 다양한 검사를 실장
      절연 도통 검사 방식으로 단락/단선 검사
      CR 검사로 단락/단선 검사
      정전 용량 측정 방식으로 단락/단선 검사
      IVH 스루 홀의 저항 검사 (옵션의 4 단자 저저항 측정)
      L, C , R, D 측정에 의해 기판 내장 소자 정수의 측정
      ● 고정밀과 동시에 검사 속도는 최속 0.012 초 / 스텝의 고속
      ● 불량시 미세한 정전 용량 변화를 확실하게 검출하는 5 aF의 고분해능 (1 aF = 10 ^ -6 pF)
      ● 최소 패드 지름 φ20μm으로, 최적 피치 미세 패드에도 확실히 프로빙
      ● 시험 전압 250V까지 가능한 절연 내압 시험 탑재 가능 (옵션)
      ● 프로브의 타흔을 최소화하면서 고속 소프트랜딩 기능과 충격 흡수 프로브
      ● 검사의 기준값 흡수에 필요한 일련의 작업을 자동화, 간단히 기본 데이터 흡수 가능

    개략 사양​

    1270
    1271
    암 수
    4 (프론트, 백 각 2)
    검사 스텝 수
    최대 40,000 스텝 (연속 시험시 300,000 단계)
    측정 시간
    Max 84 스텝 / 초
    (0.1mm 이동, 4암 동시 프로빙, 용량 측정시)
    최소 패드 지름
    φ 20 μm
    프로브 워크 영역
    394W × 324D mm
    604W × 504D mm
    고정/반송 가능 기판
    두께 : 0.6~3.2 mm
    50W × 50H ~400W × 330H mm
    두께 : 0.6~3.2 mm
    50W × 70H ~610W × 510H mm
    전원
    AC200 V ± 10 % (단상) 60 Hz, 3 kVA
    치수 · 질량
    1500W × 1800H × 860D mm 1000 kg
    1760W × 2000H × 860D mm 1200 kg

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    카탈로그

    Catalog: FAIL VIEWER UA1782 Download PDF  [2.64 MB] 영어
    Catalog: X-Y BOARD HiTESTER 1270, 1271 Download PDF  [1.32 MB] 영문

    Drivers, Firmware

    Process Analyzer  Freeware V2.05.0

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