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제품정보 > 실장기판 검사장치 > 플라잉 프로브 테스터

플라잉 프로브 테스터

FA1240-6x

견적문의

전기검사에서 실장기판의 무결성을 증명하는
"작성" "측정" "확인" 실장기판검사 시스템

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    제품번호 (발주코드)

    FA1240-61 대형 기판 대응
    FA1240-63 M 랙 기판 대응
    FA1241-61 큰 보드용, CE 대응모델
    ※FA1240-61, FA1240-63모델만 KC대응

    • ● 워크 플로우에 따라 조작하면 되어 간단. 부품 높이도 고려된 프로그램을 단시간에 완성
      ● 암 간섭 자동 연산 (UA1780과 병용)
      ● 쇼트 수 10배의 높은 마모성을 지닌 프로브도 라인업, 전용 공구 없이 교체도 간단
      ● HIOKI 독자적인 리드 들뜸 검출로 유사접촉까지 확실하게 검출. 더 뛰어난 납땜 품질을 보증
      ● 아날로그 회로에 강한 위상 분리 측정과 가딩 기능
      ● 부품 친화적인 0.2V 이하의 전압으로 측정

      CE 대응 기종 : FA1241-61

    전기 검사에서 실장의 정확성을 증명하다

    전기 검사의 측정 결과에는 측정값이 반드시 포함되어 있습니다.
    보이지 않는 전기적 특성을 가시화하고, 설계대로의 상태임을 확인하며 수치로서 출하 상태를 보증합니다.
    실장 기판 검사 현장에는 핸디 테스터 (DMM)가 반드시 구비되어 있을 것입니다. 플라잉 프로브 테스터는 정수가 포함되지 않은 칩의 값을 측정 할뿐만 아니라, 컨택트가 어려운 미세한 포인트에 쉽게 닿으며, IC 리드의 납땜 연결 상태나 BGA의 복잡한 핀간 체크 등 "보이지 않는 개소의 검사”도 자동으로 수행합니다.
    제조 현장에서 제대로 실장된 기판임을 증명하는 것이 전기 검사 장치이며, 저렴한 비용과 적은 공수로 전기 검사를 실시하는 것이 플라잉 프로브 테스터입니다.

    리드 들뜸과 유사 접촉의 차이를 명확하게

    기판 제조 공정의 각종 검사가 누락되어 시장에 출시될 가능성이 높은 불량 중 하나는 리드 유사 접촉 불량입니다.

    리드 들뜸은 기동 시험이나 기능 검사 또는 현재의 화상 검사 기술이라면 거의 확실하게 잡아낼 수 있습니다. 따라서 외관으로는 찾기 어려운 유사 접촉 상태를 감지하는 것이 HIOKI의 독자적인 저항 측정식 유사 접촉 검사입니다.

    리드와 필렛 사이의 저항을 4 단자 측정 방식 (켈빈 방식)을 이용하여 정확하게 측정, 납땜이 정상으로 올랐을 때의 저항값과의 차이를 명확히 합니다.

    워크 플로우를 채용한 간단한 인터페이스

    워크 플로우에 따라 진행하는 것만으로 검사 데이터가 완성되는 원 루트 시스템.
    평상시의 데이터 작성이 간단해 질 뿐만 아니라, 업무 인수인계 시에도 보고있는 것만으로 파악할 수 있는 간단한 시스템입니다.

    부품에 간섭하지 않는 자동 프로빙

    프로브 끝을 들여다보고 “닿았나? 닿지 않았나?”를 확인하고 계십니까?
    이러한 프로브 선택 작업을 없애 작업자의 디버그 공수를 격감시킬 수 있게 되었습니다.

    FA1240은 부품 단위로 높이와 실장 사이즈를 추가, 이 정보들을 바탕으로 검사 프로브를 자동으로 선택합니다 (사용할 수 없는 프로브의 선택도 가능). 안심하고 전기 검사 디버깅에 착수할 수 있습니다.

    시간과 비용, 보드 데미지를 줄이는 초경(초경합금) 프로브

    신형 초경 프로브는 300 만번의 컨택트로도 선단부 마모가 없습니다.

    프로브의 교환 작업이 줄어들어, 미소 포인트 컨택트 성능이 시간적으로도 향상됩니다.
    선단부 마모는 프로브 미끄럼의 주 원인이며, 원 패스율의 저하뿐만 아니라 최악의 경우 기판에 손상을 줄 수도 있습니다. 프로브의 품질은 검사 장치의 성능을 평가하는 중요한 항목입니다.

    배터리 모듈 검사를 "고속" "고정밀도" 픽스처 없이" 실시

    플라잉 4단자 프로브로 배터리 모듈 검사를 "고속" "고정밀도" 픽스처 없이" 실시할 수 있습니다.

    데이터 작성시간 1/10, 라인 정지시간 1/15

    UA1780 소프트웨어(옵션)와 함께 사용하여 재작업이 적고 단시간에 고퀄리티 검사 프로그램을 작성할 수 있습니다.

    "플라잉 프로브 테스터는 데이터 작성이 힘들다"고 생각하는 분들이야말로 최신 데이터 작성 시스템을 벤치마크로 체험해 보십시오.

    거버 데이터

    간단히 데이터를 작성할 수 있다 ≠ 간단히 검사할 수 있다라는 것은 절반은 맞고 절반은 틀립니다.
    디스크리트 시대라면 같다고 해도 상관없지만, FA1240이 추구하는 검사 데이터 작성은 "간단, 정확하게" 작성할 수 있는 것입니다.
    검사기가 작동하는 데이터와, 출하할 수 있는 검사 데이터의 차이를 최소화함으로써 (디버그 등에 의한) 생산라인의 정지 시간을 최소화하고 안심하고 제품을 출하할 수 있게 됩니다.

    "사용 가능한" 검사 데이터를 "빠르게" 작성하는 것을 고집한 결과, 거버 데이터와 마운트 데이터로 데이터를 작성하게 되었습니다.

    검사 데이터 작성 소프트웨어 FIT-LINE UA1780
    http://www.hiokikorea.com/product/product_view.html?c_id=255&p_no=255

    간략한 사양​

    FA1240-61
    FA1241-61
    FA1240-63
    암 수
    4 암 (L, ML, MR, R)
    검사 스텝 수
    40,000 스텝 (최대)
    측정 범위
    저항 : 400μΩ~40MΩ
    콘덴서 : 1pF~400mF
    인덕턴스 : 1μH~100H
    다이오드 VZ 측정 : 0~25V
    제너 다이오드 VZ 측정 : 0~25V, 25~80V (옵션)
    디지털 트랜지스터 : 0~25V
    포토 커플러 : 0~25V
    쇼트 : 0.4Ω~400kΩ
    오픈 : 4Ω~40MΩ
    직류 전압 측정 : 0~25V
    펑션 기능용 전압 측정 : ± 40V (옵션)
    릴레이 온 저항 측정 : 40m~40Ω (옵션)
    FET 온 저항 측정 : 400m~400Ω (옵션)
    간이 펑션 측정 : ± 25V (옵션)
    측정 속도
    0.025s / 스텝~
    0.025s / 스텝~
    프로빙 정밀도
    각 암 ± 100 μm 이내 (XY 각 방향)
    이동 반복 정밀도
    ± 50 μm 이내 (프로빙 위치)
    최소 프로빙 피치
    0.15 mm
    (4 단자 프로브시 0.5 mm)
    0.15 mm
    (4 단자 프로브시 0.5 mm)
    검사 가능 사이즈
    510W × 460D mm
    400W × 330D mm
    전원
    AC200 V (단상) 50/60 Hz,
    6 kVA (FA1241는 AC230 V)
    AC200 V (단상) 50/60 Hz,
    5 kVA
    치수 · 질량
    1406W × 1300H × 1380D mm 1150 kg
    1266W × 1369H × 1425D mm 1050 kg

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    카탈로그

    *기술자료: FA1240 IC리드의 유사접촉검출 Download PDF  [579.63 KB] 한국어
    *카탈로그: ATE 테스트 시스템 시리즈 Download PDF  [3.92 MB] 한국어
    *카탈로그: 플라잉 프로브 테스터 FA1240 Download PDF  [1.71 MB] 한국어
    Catalog: FLYING PROBE TESTER FA1240 Download PDF  [3.16 MB] 영문
    Catalog: Populated Board Electrical Testing System Download PDF  [3.12 MB] 영어
    Flyer: FLYING PROBE TESTER FA1240 Download PDF  [1.39 MB] 영어

    이 제품의 옵션​

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    FAQ (자주 하는 질문)

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