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제품정보 > 실장기판 검사장치

커넥터/하네스 검사 시스템 - EV용 커넥터 감합상태나 콘택트의 전선 압착상태를 다채널로 고속 고정밀도로 측정하는 검사 시스템 (FA1220))

  커넥터/하네스 검사 시스템 - EV용 커넥터 감합상태나 콘택트의 전선 압착상태를 다채널로 고속 고정밀도로 측정하는 검사 시스템 (FA1220)) [495.87 KB]

요약

자세한 내용은 첨부된 PDF파일을 참조하십시오. 


 

 

1. EV용도로 확대되는 수요

EV에서 채택되는 파워 디바이스가 보급됨에 따라 전기적 정격은 고전압・대전류화되었습니다.

고전압・대전류용 커넥터나 전선압착에서는 커넥터 감합부와 콘택트 전선 압착부의 접촉저항을 무시할 수 없게 되었습니다. 접촉저항이 작아도 대전류가 흐름으로써 전압강하가 발생해, 각 부가 발열하여 규정된 성능을 발휘하지 못하거나, 커넥터 열화를 촉진하는 일로 이어집니다. 미연에 방지하는 것이 중요합니다.

여기서는 중간공정 검사에서 확인함으로써 잠재불량을 미연에 방지하는 검사 시스템을 소개합니다.

          

 

2. 커넥터 감합・하네스 검사의 과제

커넥터 단품 또는 케이블 어셈블리 실시 후에 접촉저항값을 확인하는 검사입니다. 

저항계를 사용해 양 끝 저항값을 측정하는데, 저항값이 낮기 때문에 일반적으로 4단자측정법을 사용해 측정합니다. 따라서 4개의 테스트 프로브가 필요합니다.

원래 이 검사는 커넥터 단자에 프로브를 갖다대는 지그와 회로 전환을 위한 릴레이 회로, 저항계, 이들을 컨트롤하는 컴퓨터와 PLC, 그리고 검사 시퀀스를 실행하는 프로그램으로 구성되어 있습니다. 이 구성에서는 아래와 같은 해결 과제가 있습니다. 

 

· 회로 전환과 계측기의 동기 제어가 어려워 일반적으로 검사 택트가 걸린다

· 품종 변경 시 작업 전환이 번거롭다

· 고장 시 장애 분리에 시간이 걸린다（유지보수성이 떨어짐)


 

 

3. 고속 검사와 높은 유지보수성을 실현

인서킷 테스터 FA1220, 쇼트・오픈 테스터 FA1221은 회로 전환기(스캐너)와 계측기를 콤팩트한 본체에 일체화시켜 PC상에서 전용 소프트웨어와 연계해 고속 제어합니다.

범용화 검사 시스템으로 제작되어, 고신뢰성 검사가 가능합니다.

아래와 같은 특장점이 있습니다. 

 

· 내장 스캐너・계측보드의 최적화된 동기 제어를 통해 고속 검사가 가능

· PC어플리케이션 소프트웨어로 검사 데이터 간단 작성

· 4단자 측정 시의 소스-센스 간 콘택트 체크 기능으로 오판정과 불량품 유출 을 방지

· 고장 시 자동 장애 분리가 가능한 자가진단기능

 

고전압・대전류화 트렌드는 EV 보급에 의해 앞으로 점점 증가하리라 예상됩니다. 더 향상된 커넥터・하네스 품질과 양산 검사 택트 개선이 생산현장에 요구됩니다.

인서킷 테스터 FA1220, 쇼트・오픈 테스터 FA1221은 생산현장의 과제 해결을 지원하는 제품입니다.

 

 

 

4. 장치 탑재를 가능하게 하는 기능・콘셉

인서킷 테스터 FA1220은 콤팩트한 크기면서 최대 1024핀까지 스캐너를 증설할 수 있습니다. 또한 I/O보드에 의해 외부에서 검사 시작 등의 제어가 가능하며, 판정결과를 출력할 수 있습니다. 

쇼트・오픈 테스터 FA1221은 최대 128핀・저항측정기능으로 한정되어 가성비가 뛰어난 제품입니다. 

두 제품 모두, 사용자의 장치에 탑재해 사용할 수 있는 기능과 사양을 실장했습니다.