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건조 온도에 따라 변화하는 계면 저항을 손쉽게 평가 (RM2610)

  건조 온도에 따라 변화하는 계면 저항을 손쉽게 평가 (RM2610) [135.09 KB]

요약

 

자세한 내용은 첨부된 PDF파일을 참조하십시오.

 

도장된 전극의 건조 온도를 높여 건조 시간을 단축하고 싶지만 , 완성된 셀의 내부 저항에 어떤 영향을 미칠지 몰라 고민이신가요 ?

RM2610 전극 저항 측정 시스템을 사용하면 간편하게 평가할 수 있습니다 .

 

1. 개요

전극 시트의 건조 온도에 따라 바인더의 마이그레이션 ( 편재 ) 이 발생하여 셀의 내부 저항에 영향을 미치는 것으로 알려져 있습니다 . 셀 조립 전 단계에서 합재층 저항과 계면 저항을 측정하여 생산 공정의 건조 온도가 적절한지 여부를 평가할 수 있습니다 .

 

 

 

2. 과제

기존에는 계면 저항을 정확하게 측정하는 것이 어려웠습니다 . 따라서 도장 조건이나 건조 조건의 평가는 관통 저항이나 시트 저항 측정에 의존할 수 밖에 없었습니다 .

 

 

3. 해결책

전극 시트의 양극을 90° C 와 150° C 의 두 가지 온도에서 건조시킨 결과 , 150° C 의 경우 계면 저항이 커지는 것을 확인했습니다 .

양극의 구성은 NCM, AB, PVDF 입니다 .

또한 , 프레스 후 계면 저항에서도 이러한 경향이 남아 있어 결국 셀의 내부 저항에 영향을 미칠 것으로 예상됩니다 .

해당 측정 결과에서 150° C 보다 낮은 온도에서 건조하는 것이 내부 저항을 낮추는 데 효과적이라는 것을 알 수 있습니다 .

RM2610 전극 저항 측정 시스템으로 계면 저항을 측정함으로써 건조 온도 조절이 셀 성능에 미치는 영향을 사전에 평가하고 최적의 건조 조건을 검토할 수 있습니다 .

 

 

4. 실측 데이터

전극 시트의 3 점을 측정한 실측 데이터입니다 . 

 

 

 

데모기 요청 , 어플리케이션에 관한 상담은 HIOKI 문의처로 연락 주시기 바랍니다 .