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제품정보 > 실장기판 검사장치

커넥터・하네스 검사 시스템(FA1220)

  커넥터・하네스 검사 시스템(FA1220) [495.87 KB]

요약

■ 커넥터, 하네스 검사 시스템

EV용 커넥터 감합상태나 콘택트의 전선 압착상태를 다채널로 고속 고정밀도로 측정하는 검사 시스템 


 

 

■ EV용도로 확대되는 수요 

EV에서 채택되는 파워 디바이스가 보급됨에 따라 전기적 정격은 고전압・대전류화 되었습니다.

고전압・대전류용 커넥터나 전선압착에서는 커넥터 감합부와 콘택트 전선압착부의 접촉저항을 무시할 수 없게 되었습니다. 

접촉저항이 작아도대전류가 흐름으로써 전압강하가 발생해, 각 부가 발열하여 규정된 성능을 발휘하지 못하거나, 커넥터 열화를 촉진하는 일로 이어집니다. 미연에 방지하는 것이 중요합니다.

여기서는 중간 공정 검사에서 확인함으로써 잠재불량을 미연에 방지하는 검사시스템을 소개합니다.


 

 

■ 커넥터 감합・하네스 검사의 과제 

커넥터 단품 또는 케이블 어셈블리 실시 후에 접촉저항값을 확인하는검사입니다.

저항계를 사용해 양 끝 저항값을 측정하는데, 저항값이 낮기 때문에 일반적으로 4단자측정법을 사용해 측정합니다. 따라서 4개의 테스트 프로브가 필요합니다.

원래 이 검사는 커넥터 단자에 프로브를 갖다대는 지그와 회로 전환을 위한릴레이 회로, 저항계, 이들을 컨트롤하는 컴퓨터와 PLC, 그리고 검사 시퀀스를 실행하는 프로그램으로 구성되어 있습니다. 이 구성에서는 아래와 같은 해결 과제가 있습니다.

 

- 회로 전환과 계측기의 동기 제어가 어려워 일반적으로 검사 택트가 걸린다

- 품종 변경 시 작업 전환이 번거롭다

- 고장 시 장애 분리에 시간이 걸린다（유지보수성이 떨어짐)

 


 

■ 고속 검사와 높은 유지보수성을 실현 

인서킷 테스터 FA1220, 쇼트・오픈 테스터 FA1221 은 회로전환기(스캐너)와 계측기를 콤팩트한 본체에 일체화시켜 PC상에서 전용 소프트웨어와 연계해 고속 제어합니다.

범용화 검사 시스템으로 제작되어, 고신뢰성 검사가 가능합니다.

아래와 같은 특장점이 있습니다.

 

- 내장 스캐너・계측보드의 최적화된 동기 제어를 통해 고속 검사가 가능

- PC어플리케이션 소프트웨어로 검사 데이터 간단 작성

- 4단자 측정 시의 소스-센스 간 콘택트 체크 기능으로 오판정과 불량품 유출을 방지

- 고장 시 자동 장애 분리가 가능한 자가진단기능

 

고전압・대전류화 트렌드는 EV 보급에 의해 앞으로 점점 증가하리라 예상됩니다. 더 향상된 커넥터・하네스 품질과 양산 검사 택트 개선이 생산현장에 요구됩니다.

인서킷 테스터 FA1220, 쇼트・오픈 테스터 FA1221은 생산현장의 과제해결을 지원하는 제품입니다.


 

 

■ 장치 탑재를 가능하게 하는 기능・콘셉 

인서킷 테스터 FA1220은 콤팩트한 크기면서 최대 1024핀까지 스캐너를 증설할 수 있습니다. 또한 I/O보드에 의해 외부에서 검사 시작 등의 제어가 가능하며, 판정결과를 출력할 수 있습니다.

쇼트・오픈 테스터 FA1221은 최대 128핀・저항 측정기능으로 한정되어 가성비가 뛰어난 제품입니다.

두 제품 모두, 사용자의 장치에 탑재해 사용할 수 있는 기능과 사양을 실장했습니다.

 

자세한 내용은 상단의 PDF파일을 참조하십시오.