플라잉 프로브 테스터
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플라잉 프로브 테스터

FA1240-6x

전기 검사에서 실장의 정확성을 증명하는,
「만들고」 「측정하고」 「보는」실장 기판 검사 시스템

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● 워크 플로우에 따라 진행하는 것만으로 조작, 부품 높이도 고려된 프로그램이 단시간에 완성
● 암 간섭 자동 연산 (UA1780와 병용)
● 쇼트 수 10배의 높은 내마모 프로브도 라인업, 전용 공구 레스로 교환도 간단
● 전기 부품의 유사 접촉 검출, 공정의 검출율 향상 실현
● 복합 부품의 분리 검사와 가딩
● 부품 친화적인 0.2V 이하의 전압으로 측정

CE 대응 기종 : FA1241-61

제품번호 (발주 코드)

FA1240-61 대형 보드용
FA1240-63 중간 랙 보드용
FA1241-61 큰 보드용, CE 준수 모델


전기 검사에서 실장의 정확성을 증명하다

전기 검사의 측정 결과에는 측정값이 반드시 포함되어 있습니다.
보이지 않는 전기적 특성을 가시화하고, 설계대로의 상태임을 확인하며 수치로서 출하 상태를 보증합니다.
실장 기판 검사 현장에는 핸디 테스터 (DMM)가 반드시 구비되어 있을 것입니다. 플라잉 프로브 테스터는 정수가 포함되지 않은 칩의 값을 측정 할뿐만 아니라, 컨택트가 어려운 미세한 포인트에 쉽게 닿으며, IC 리드의 납땜 연결 상태나 BGA의 복잡한 핀간 체크 등 "보이지 않는 개소의 검사”도 자동으로 수행합니다.
제조 현장에서 제대로 실장된 기판임을 증명하는 것이 전기 검사 장치이며, 저렴한 비용과 적은 공수로 전기 검사를 실시하는 것이 플라잉 프로브 테스터입니다.


리드 들뜸과 유사 접촉의 차이를 명확하게

기판 제조 공정의 각종 검사가 누락되어 시장에 출시될 가능성이 높은 불량 중 하나는 리드 유사 접촉 불량입니다.

리드 들뜸은 기동 시험이나 기능 검사 또는 현재의 화상 검사 기술이라면 거의 확실하게 잡아낼 수 있습니다. 따라서 외관으로는 찾기 어려운 유사 접촉 상태를 감지하는 것이 HIOKI의 독자적인 저항 측정식 유사 접촉 검사입니다.

리드와 필렛 사이의 저항을 4 단자 측정 방식 (켈빈 방식)을 이용하여 정확하게 측정, 납땜이 정상으로 올랐을 때의 저항값과의 차이를 명확히 합니다.


워크 플로우를 채용한 간단한 인터페이스

워크 플로우에 따라 진행하는 것만으로 검사 데이터가 완성되는 원 루트 시스템.
평상시의 데이터 작성이 간단해 질 뿐만 아니라, 업무 인수인계 시에도 보고있는 것만으로 파악할 수 있는 간단한 시스템입니다.


부품에 간섭하지 않는 자동 프로빙

프로브 끝을 들여다보고 “닿았나? 닿지 않았나?”를 확인하고 계십니까?
이러한 프로브 선택 작업을 없애 작업자의 디버그 공수를 격감시킬 수 있게 되었습니다.

FA1240은 부품 단위로 높이와 실장 사이즈를 추가, 이 정보들을 바탕으로 검사 프로브를 자동으로 선택합니다 (사용할 수 없는 프로브의 선택도 가능). 안심하고 전기 검사 디버깅에 착수할 수 있습니다.


시간과 비용, 보드 데미지를 줄이는 초경(초경합금) 프로브

신형 초경 프로브는 300 만번의 컨택트로도 선단부 마모가 없습니다.

프로브의 교환 작업이 줄어들어, 미소 포인트 컨택트 성능이 시간적으로도 향상됩니다.
선단부 마모는 프로브 미끄럼의 주 원인이며, 원 패스율의 저하뿐만 아니라 최악의 경우 기판에 손상을 줄 수도 있습니다. 프로브의 품질은 검사 장치의 성능을 평가하는 중요한 항목입니다.


간략한 사양

FA1240-61 FA1241-61 FA1240-63
암 수 4 암 (L, ML, MR, R)
검사 스텝 수 40,000 스텝 (최대)
측정 범위 저항 : 400μΩ~40MΩ 콘덴서 : 1pF~400mF 인덕턴스 : 1μH~100H 다이오드 VZ 측정 : 0~25V 제너 다이오드 VZ 측정 : 0~25V, 25~80V (옵션) 디지털 트랜지스터 : 0~25V 포토 커플러 : 0~25V 쇼트 : 0.4Ω~400kΩ 오픈 : 4Ω~40MΩ 직류 전압 측정 : 0~25V 펑션 기능용 전압 측정 : ± 40V (옵션) 릴레이 온 저항 측정 : 40m~40Ω (옵션) FET 온 저항 측정 : 400m~400Ω (옵션) 간이 펑션 측정 : ± 25V (옵션)
측정 속도 0.025s / step~ 0.025s / step~
프로빙 정밀도 각 암 ± 100 μm 이내 (XY 각 방향)
이동 반복 정밀도 ± 50 μm 이내 (프로빙 위치)
최소 프로빙 피치 0.15 mm (4 단자 프로브시 0.5 mm) 0.15 mm (4 단자 프로브시 0.5 mm)
검사 가능 사이즈 510W × 460D mm 400W × 330D mm
전원 AC200 V (단상) 60 Hz, 6 kVA (FA1241는 AC230 V) AC200 V (단상) 60 Hz, 5 kVA
치수 · 질량 1406W × 1300H × 1380D mm 1150 kg 1266W × 1369H × 1425D mm 1050 kg

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사용 예 (어플리케이션 ・용도)

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카탈로그

Catalog: FLYING PROBE TESTER FA1240 Download PDF  [2.55 MB] 영문
Catalog: Populated Board Electrical Testing System Download PDF  [2.11 MB] 영문

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