플라잉 프로브 테스터
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플라잉 프로브 테스터

FA1240-5x

실장 기판의 품질 관리에 FIXTURELESS
인서킷 테스터

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● 워크 플로우에 따라 진행하는 것만으로 조작, 부품 높이도 고려된 프로그램이
   단시간에 완성
● 암 간섭 자동 연산 (UA1780와 병용)
● 쇼트 수 10배의 높은 내마모 프로브도 라인업, 전용 공구 레스로 교환도 간단
● 전기 부품의 유사 접촉 검출, 공정의 검출율 향상 실현
● 복합 부품의 분리 검사와 가딩
● 부품 친화적인 0.2V 이하의 전압으로 측정

CE 대응 기종 : FA1241-51, FA1241-52

제품번호 (발주 코드)

FA1240-51 대형 보드용
FA1240-52 대형 보드용
FA1240-53 중간 랙 보드용
FA1241-51 대형 보드용, CE 준수 모델
FA1241-52 대형 보드용, CE 준수 모델


데이터 작성 시간 1/10, 라인 정지 시간 1/15

UA1780 소프트 (옵션)와 함께 사용하여 재작업이 적고, 단시간에 하이 퀄리티의 검사 프로그램을 작성할 수 있습니다.

“플라잉 프로브 테스터는 데이터 작성이 어렵다”고 생각하는 분이야말로, 최신 데이터 작성 시스템을 벤치 마크로 체험하십시오.


거버 데이터에 몰두하는 검증 포인트 지상주의

[간단히 데이터를 작성 가능 ≠ 간단히 검사 가능]이라는 것은 반은 맞지만 반은 틀린 말입니다.
디스크리트 시대라면 맞는 말이 될 수 있지만, FA1240 추구하는 검사 데이터 작성은 “쉽게 - 정확한 - 검사 데이터의 생성 가능”입니다.
검사기가 움직이는 데이터와 출하 가능한 검사 데이터의 차이를 최소화 함으로써 (디버깅 등을 통해) 생산 라인의 정지 시간을 최소화하여 안심하고 제품을 출하할 수 있게 됩니다.
“사용 가능한”검사 데이터를 “신속하게”작성하는 것에 고집한 결과, 거버 데이터와 마운트 데이터로부터의 데이터 작성이 성립되었습니다.


워크 플로우를 채용한 간단한 인터페이스

워크 플로우에 따라 진행하는 것만으로 검사 데이터가 완성되는 원 루트 시스템.


부품에 간섭하지 않는 자동 탐색

프로브 끝을 들여다보고 “닿았나? 닿지 않았나?”를 확인하고 계십니까?

사실 이 프로브 선택은 디버깅 중에서도 부하가 높은, 신경을 쓰게 만드는 항목이었습니다.
마운트 데이터에 부품 높이 정보를 추가함으로서 검사 프로브를 자동으로 선택. 안심하고 전기검사 디버깅에 착수할 수 있습니다.


리드 들뜸과 유사 접촉의 차이를 명확하게

기판 제조 공정의 각종 검사가 누락되어 시장에 출시될 가능성이 높은 불량 중 하나는 리드 유사 접촉 불량입니다.

리드 띄움은 기동 시험이나 기능 검사 또는 현재의 화상 검사 기술이라면 거의 확실하게 잡아낼 수 있습니다. 따라서 외관으로는 찾기 어려운 유사 접촉 상태를 감지하는 것이 HIOKI의 독자적인 저항 측정식 유사 접촉 검사입니다.

리드와 필렛 사이의 저항을 4 단자 측정 방식 (켈빈 방식)을 이용하여 정확하게 측정, 납땜이 정상으로 올랐을 때의 저항값과의 차이를 명확히 합니다.


시간과 비용, 보드 데미지를 줄이는 초경(초경합금) 프로브

신형 초경 프로브는 300 만번의 컨택트로도 선단부 마모가 없습니다.

프로브의 교환 작업이 줄어들어, 미소 포인트 컨택트 성능이 시간적으로도 향상됩니다.
선단부 마모는 프로브 미끄럼의 주 원인이며, 원 패스율의 저하뿐만 아니라 최악의 경우 기판에 손상을 줄 수도 있습니다. 프로브의 품질은 검사 장치의 성능을 평가하는 중요한 항목입니다.


“만들고, 측정하고, 보는”실장 기판 전기 검사 시스템

귀하의 기판을 사용하여 최신 검사 시스템을 꼭 체험하십시오.

“만드는”검사 데이터 작성 시스템 UA1780
“측정하는”플라잉 프로브 테스터 FA1240
“보는”FAIL VIEWER UA1782
실장 기판의 검사는 정확한 데이터를 작성하고 정확히 측정하며, 정확히 불량 개소를 파악하는 것이 중요합니다.

[카탈로그 자료 있음]


간략한 사양

FA1240-51 FA1241-51 FA1240-52 FA1241-52 FA1240-53
암 수 4 암 (L, ML, MR, R)
검사 스텝 수 40,000 스텝 (최대)
측정 범위 저항 : 400μΩ~40MΩ 콘덴서 : 1pF~400mF 인덕턴스 : 1μH~100H 다이오드 VZ 측정 : 0~25V 제너 다이오드 VZ 측정 : 0~25V, 25~80V (옵션) 디지털 트랜지스터 : 0~25V 포토 커플러 : 0~25V 쇼트 : 0.4Ω~400kΩ 오픈 : 4Ω~40MΩ 직류 전압 측정 : 0~25V 펑션 기능용 전압 측정 : ± 40V (옵션) 릴레이 온 저항 측정 : 40m~40Ω (옵션) FET 온 저항 측정 : 400m~400Ω (옵션) 간이 펑션 측정 : ± 25V (옵션)
측정 속도 0.025s / step~ 0.033s / step~ 0.025s / step~
프로빙 정밀도 각 암 ± 100 μm 이내 (XY 각 방향)
이동 반복 정밀도 ± 50 μm 이내 (프로빙 위치)
최소 프로빙 피치 0.2 mm (4 단자 프로브시 0.5 mm) 0.2 mm (4 단자 프로브시 0.5 mm) (ML-MR 간 7.5 mm) 0.2 mm (4 단자 프로브시 0.5 mm)
검사 가능 사이즈 510W × 460D mm 510W × 460D mm 400W × 330D mm
전원 AC200 V (단상) 60 Hz 6 kVA (FA1241는 AC230 V) AC200 V (단상) 60 Hz 6 kVA (FA1241는 AC230 V) AC200 V (단상) 60 Hz, 5 kVA
치수 · 질량 1406W × 1300H × 1380D mm 1150 kg 1406W × 1300H × 1380D mm 1150 kg 1266W × 1369H × 1425D mm 1050 kg

이 제품의 옵션원하시는 제품을 선택하여 주십시오.

사용 예 (어플리케이션 ・용도)

회원가입하시면 모든 콘텐츠 다운로드가 가능합니다.

카탈로그

Catalog: FAIL VIEWER UA1782 Download PDF  [1.77 MB] 영문
Catalog: FEB-LINE INSPECTION DATA CREATION SYSTEM UA1781 Download PDF  [1.66 MB] 영문
Catalog: FIT-LINE INSPECTION DATA CREATION SYSTEM UA1780 Download PDF  [2.12 MB] 영문
Catalog: FLYING PROBE TESTER FA1240 Download PDF  [2.55 MB] 영문
Catalog: Populated Board Electrical Testing System Download PDF  [2.11 MB] 영문

갤러리



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