인 서킷 하이 테스터
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인 서킷 하이 테스터

1220

실장 기판의 품질 향상을 서포트

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● 탁상형 1BOX에 기능을 집약 (1220-50)
● 전해 콘덴서/IC 역삽입 감지 (옵션)
● 검사 효율을 높이는 매크로 검사
● 다양한 시스템 구성 가능

제품번호 (발주 코드)

1220-50 데스크탑 모델
1220-51 오프라인 모델
1220-52 공간 절약형 모델
1220-55 인라인 모델

풀 라인업

측정 유닛, 공간 절약, 인라인과 현장에 맞춘 바리에이션

부품 검사 기능, 도통 · 절연 등의 기본 기능 충실뿐만 아니라, ROM 쓰기나 LED 색채 센서의 조합 등 확장성도 충분히 배려하였습니다. 품질 향상과 검사 공수의 삭감을 실현하기 위한 기본 유닛으로 인 서킷 테스터 1220을 사용하십시오.


LED 색상 식별, 휘도 판정

1220은 파워 소스 유닛 실장함으로써 실장 검사와 LED 검사를 하나의 지그로 대응 가능합니다.
1대 완결성으로 인해 택트 단축뿐만 아니라 데이터 집약도 가능하여 검사 후 해석에도 도움이 됩니다.


PAT (Part Average Testing)을 검토중인 분들에게

PAT 기법을 프린트 기판 검사에 도입하여 품질 향상을 실현하기 위해 ICT에 RANK 판정 기능을 탑재했습니다.
모집단으로부터 괴리된 아웃라이어(이상치)에 RANK 판정 플래그를 추가합니다. 또한 RANK 판정 유무는 부품별로 설정할 수 있습니다.


포인트 정보 뷰(UA1782)

“핀 보드에서 상태가 난잡한 프로브, 기판의 어디에 닿은 거지?”
검사 중에는 포인트 뷰어, 오프라인에서는 FAIL VIEWER UA1782을 사용하여 불량 핀의 위치를 파악하고, 부품 탐색도 간단히 수행할 수 있습니다.


개략 사양

1220-50 1220-51 1220-52 1220-55
검사 항목 · 범위 총 접촉 쇼트 / 오픈, 컴포넌트 테스트
매크로 테스트 : 10 Ω~10MΩ Ω (임피던스)
저항 측정 : 400 μΩ~40M Ω
콘덴서 측정 : 10 pF~400 mF
코일 측정 : 1 μH~100 H
다이오드, 트랜지스터 (VF) 측정 : 0 V~25 V
제너 다이오드 (VZ) 측정 : 0 V~25 V (25 V~120 V는 옵션)
디지털 트랜지스터 (Q) 측정 : 0 V~25 V
포토 커플러 측정 : 0 V~25 V
콘덴서 역삽입 감지 (옵션), IC 역삽입 감지 (옵션)
최대 검사 포인트 2,176 핀 (확장 박스 3 대 증설시) 표준 : 128 핀 2,176 핀 (확장 박스 3 대 증설시) 표준 : 320 핀 1536 핀 (확장 박스 2 대 증설시) 표준 : 320 핀 2,176 핀 (확장 박스 3 대 증설시) 표준 : 320 핀
64 핀 단위로 증설 가능
최대 검사 스텝 수 10,000 스텝
측정 시간 총 접촉 쇼트 / 오픈 : 약 0.8 msec~ / 핀 컴포넌트 : 약 0.9 msec~ / 스텝
측정 가능 기판 - 390 (W) × 300 (D) mm
전원 AC100 V ± 10 % (기타 주문시 지정), 소비 전력 : 700~1000 VA
치수 · 질량 200W × 325H × 298Dmm 10 kg 1030W × 1470H × 710Dmm 240 kg 655W × 1610H × 705Dmm 220 kg -

이 제품의 옵션원하시는 제품을 선택하여 주십시오.

사용 예 (어플리케이션 ・용도)

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카탈로그

Catalog: CONTACT PROBES CP/1161/1171/1172 Series Download PDF  [1.63 MB] 영문
Catalog: FAIL VIEWER UA1782 Download PDF  [1.77 MB] 영문
Catalog: IN-CIRCUIT HiTESTER 1220 Download PDF  [4.11 MB] 영문
Catalog: Populated Board Electrical Testing System Download PDF  [2.11 MB] 영문
Catalog: POWER SOURCE UNIT 1937-04 Download PDF  [1.3 MB] 영문

갤러리



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