베어 보드 테스터

베어 보드 테스터

1232

테스트 헤드 (지그)를 이용한 검사 장치
(실장 전자 부품의 측정 기술을 집약)

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1232에는 HIOKI - 서킷 테스터의 측정 기술이 활용되고 있습니다
■ 저항 보증이 필요한 빌드 업 기판
● SIM-LINE에서 생성되는 이론 저항값과 고정밀 4 단자 저항 측정이 패턴의 신뢰성을 보증합니다
■ 부품 내장 기판
● HIOKI의 인서킷 테스터로 축적된 측정 노하우를 통해 진일보한 내장 부품 검사를 제공합니다
■ CSP / CPU 쿼터 패널 사이즈
● 340mm × 330mm의 와이드 워크 영역
■ 플렉시블 기판
● 0.05mm 의 얇은 기판에 대응합니다
● 텐션 클램프로 플렉시블 기판도 안정적으로 고정할 수 있습니다

제품번호 (발주 코드)

1232-70 총 핀 번호 8192


간략한 사양

1232-70
최대 검사 포인트 8,192 (위 4096, 아래 4096)
최대 검사 스텝 수 10,000 단계
택트 타임 측정 0.330 초 / pce (도통 210 μsec × 1024, 절연 115 msec) (※ 1 피스 단점수 2,048 네트워크 수 1,024)
최소 패드 지름 φ 20 μm
고정/반송 가능 기판 50 (W) × 50 (D) ~ 340 (W) × 330 (D) mm 0.05~2.5 mm (단 불가능한 경우가 있으며, 얇은 두께는 상담 요망)
측정 유닛 표준 측정 유닛
전원 AC200 V ± 10 % (3상) 50/60 Hz, 소비 전력 : 3.5 kVA
치수 · 질량 1437W × 1685H × 1905D mm 2000 kg

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사용 예 (어플리케이션 ・용도)

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