XY 보드 하이 테스터

XY 보드 하이 테스터

1270,1271

탁월한 코스트 퍼포먼스의 양면 베어 보드 검사

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● 프론트 2 암, 백 2 암 등 총 4 암으로 양면 동시 검사
● 단자 저저항 측정 기능 (옵션)으로 크랙 등의 보이지 않는 결함까지 탐지
● 도통 검사 방식과 정전 용량 측정 방식 외에 다양한 검사를 실장
절연 도통 검사 방식으로 단락/단선 검사
CR 검사로 단락/단선 검사
정전 용량 측정 방식으로 단락/단선 검사
IVH 스루 홀의 저항 검사 (옵션의 4 단자 저저항 측정)
L, C , R, D 측정에 의해 기판 내장 소자 정수의 측정
● 고정밀과 동시에 검사 속도는 최속 0.012 초 / 스텝의 고속
● 불량시 미세한 정전 용량 변화를 확실하게 검출하는 5 aF의 고분해능 (1 aF = 10 ^ -6 pF)
● 최소 패드 지름 φ20μm으로, 최적 피치 미세 패드에도 확실히 프로빙
● 시험 전압 250V까지 가능한 절연 내압 시험 탑재 가능 (옵션)
● 프로브의 타흔을 최소화하면서 고속 소프트랜딩 기능과 충격 흡수 프로브
● 검사의 기준값 흡수에 필요한 일련의 작업을 자동화, 간단히 기본 데이터 흡수 가능

제품번호 (발주 코드)

1270 년 50 × 50 ~ 400 × 330mm 보드
1271 년 50 × 70 ~ 610 × 510mm 보드

검사 기판 크기 1270 50 × 50~400 × 330 mm 검사 기판 크기 1271 50 × 70~610 × 510 mm

개략 사양

1270 1271
암 수 4 (프론트, 백 각 2)
검사 스텝 수 최대 40,000 스텝 (연속 시험시 300,000 단계)
측정 시간 Max 84 스텝 / 초 (0.1mm 이동, 4암 동시 프로빙, 용량 측정시)
최소 패드 지름 φ 20 μm
프로브 워크 영역 394W × 324D mm 604W × 504D mm
고정/반송 가능 기판 두께 : 0.6~3.2 mm 50W × 50H ~400W × 330H mm 두께 : 0.6~3.2 mm 50W × 70H ~610W × 510H mm
전원 AC200 V ± 10 % (단상) 60 Hz, 3 kVA
치수 · 질량 1500W × 1800H × 860D mm 1000 kg 1760W × 2000H × 860D mm 1200 kg

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